OTP(One-Time Programmable)即一次性可编程存储器，之所以只能烧写一次，源于其特殊的物理实现机制和设计目的。

　　从物理实现角度来看，常见的 OTP 实现方式有熔丝型和反熔丝型 。对于熔丝型 OTP，初始状态下，熔丝是完整的，对应逻辑状态为 1(未熔断)。当进行烧写操作时，通过向熔丝施加足够大的电流，使熔丝温度急剧升高从而熔断。一旦熔丝熔断，其物理连接断开，就无法再次恢复到初始的连通状态，对应逻辑状态变为 0 。例如在一些早期的可编程只读存储器(PROM)中就采用这种方式，熔断后的熔丝无法逆向修复，所以只能进行一次编程。

　　反熔丝型 OTP 则与之相反，初始时存储单元呈现高阻态或电容特性，对应逻辑状态为 0 。编程时，施加高电压将反熔丝击穿，使其变为低阻态，对应逻辑状态变为 1 。由于击穿造成的物理结构变化是不可逆的，一旦反熔丝被击穿，就不能再恢复到初始的高阻态，从而实现了一次性编程。像某些基于半导体材料相变的 eFuse(电可熔断丝，也是 OTP 的一种实现形式)，编程脉冲会改变材料的晶相结构，从低阻态变为高阻态或者相反，这种晶相结构的改变是永久性的，不可逆转 。

　　从设计目的而言，OTP 被设计为只能烧写一次，主要是为了保证存储数据的安全性和永久性 。在许多应用场景中，例如存储设备的唯一序列号、加密密钥、硬件配置参数等，这些数据一旦确定就不希望被修改或篡改 。如果允许多次烧写，那么数据的安全性将大打折扣，容易受到恶意攻击或误操作导致数据被更改。例如在安全启动过程中，OTP 中存储的密钥用于验证系统的完整性和合法性，若能随意修改，攻击者就可能篡改密钥，从而绕过安全验证，破坏系统安全。所以，OTP 的一次性烧写特性，为数据提供了可靠的物理层面的保护，确保其在设备的整个生命周期内保持稳定和安全 。